特許分類

2018-01-02 : 更新
2007-02-18 : 更新
2006-10-14 : 作成

IPC : 国際特許分類 (International Patent Classification)

国際特許分類(IPC)とは、国際特許分類に関するストラスブール協定(1971年3月24日 : 日本では1976年に批准)に基づいて作成された世界共通の特許分類。
もともと5年に一度改定されていたが、現在は適宜改訂が行われている。
> > 国際特許分類: IPC

FI :

ファイル･インデックス

国際特許分類(IPC)の末尾に分冊識別記号(アルファベット1文字)や展開記号(3桁の数字)を追加して、IPCをさらに細分類した特許分類。
日本固有の分類。下記の欧州特許分類(EPC, ECLA)と構成が似ている。
> > FI: ファイル･インデックス

Fターム

技術的観点から項目分けされているIPCとは異なり、複数の観点(発明の目的、用途、材料、制御、制御量など)から細分類した特許分類。特許の実態審査における先行技術調査を効率的に行うためにFタームが開発された。FIと同様、日本固有の分類。
> > Fターム

CPC : 欧米共同特許分類 (Cooperative Patent Classification)

米国特許商標庁（USPTO）と欧州特許庁（EPO）が2014年より使用している特許分類。主にECLA（欧州特許分類）をベースとしており、IPCをさらに細分化しているFIと似たような構成を取っている。IPCやFIと異なる点としては技術の融合領域を取り扱うYセクションを設置している点である。
> > 欧米共同特許分類: CPC

USC : 米国特許分類

IPCとは全く異なる構成のアメリカ独自の特許分類(FIやECLAはIPCベースで作成されているがUPCは違う)。下記のUPC検索サイトにおいて米国特許分類とIPCのコンコーダンス(対応関係)が閲覧できる。
米国ではデザイン(意匠)も特許として発効されるので、特許分類にもデザイン特許専用の分類が設けられている(先頭にDが付いている)。 分類の変更が頻繁に行われる。
> > 米国特許分類: USC

ECLA : 欧州特許分類

欧州特許分類(EPC,ECLA)は、IPCにサブグループを追加して改良した特許分類。日本固有の特許分類であるFIと似ている。
> > 欧州特許分類: ECLA

その他の特許分類

• ダウエントクラス
  • Thomson Scientific(旧ダウエント)の特許検索データベースWPI(World Patent Index)で採用されている全技術分野を21に分けた独自の分類(A～M : 化学、P～Q : 機械工学、S～X : 電子･電気)。
• マニュアルコード
  • Thomson Scientific(旧ダウエント)が統一した基準で付与している化学分野と電子･電気分野の発明の検索用索引コード(化学分野のマニュアルコードをCPIマニュアルコード、電子･電気分野のマニュアルコードをEPIマニュアルコードと呼ぶ)
• 広域分類
  • 産業分野的な分類と社会的に関心を集めている技術分類を併合したPATOLIS独自分類

> > その他の特許分類

 

特許分類関係リンク集

• パテントマップガイダンス（PMGS）
  • 特許情報プラットフォーム内のメニューで、IPC・FI・Fタームについて定義確認およびキーワードから分類を探すことができる
• 特許検索ポータルサイト
  • 特許庁が運営しているページで、先行技術調査をサポートする情報を掲載している。特許分類関係では分類の相関性を加味してFターム,FIを検索するツール（着目するテーマとフリーワードによって、関連する検索キーを得るためのツール）、分類の相関性を表示させるツール（特許庁内における分類相関性を様々な階層レベルで表示させるツール）、国内外の分類の対応関係参照ツール（IPC, FI, ECLA, CPCの対応関係がより簡便に調査・参照でき、サーチの際の参考とするためのツール）やテーマ別検索ガイダンス（テーマ別に設けた、検索実例や検索手法等へのリンク）といったメニューがある
• WIPO International Classifications
  • WIPO（世界知的所有権機構）ページ内のIPCを始めとした国際特許分類に関する情報を掲載
• Cooperative Patent Classification
  • 欧米共同特許分類CPCの定義のほか、最新ニュース、改訂情報などを掲載
• 特許分類表 – テクノリサーチ
  • テクノサーチ社が運営している特許分類表（IPC、FI）

 

特許分類関係論稿 – Japio YEAR BOOK

• Japio YEAR BOOK 2007　寄稿集
  • 特許分類等の付与制度向上への取り組み
  • 特許情報分析と特許分類システム
• Japio YEAR BOOK 2008　寄稿集
  • 学術論文の国際特許分類への自動分類
• Japio YEAR BOOK 2009　寄稿集
  • ２種類の翻訳システムを用いた学術論文の特許分類体系への自動分類
• Japio YEAR BOOK 2011　寄稿集
  • 国際的な分類調和の動向と日本国特許庁の取り組み
  • オントロジーと特許分類
• Japio YEAR BOOK 2012　寄稿集
  • 五庁共通ハイブリッド分類（CHC）プロジェクトの進捗とJPOの取組
  • 特許分類の自動推定に向けた取り組み
• Japio YEAR BOOK 2013　寄稿集
  • 特許分類に関する国際的な動向
  • 新特許分類・ＣＰＣの使いこなし
  • CPC（共通特許分類）の始動と特許情報検索への影響
  • 特許分類の自動推定に向けた取り組み
• Japio YEAR BOOK 2014　寄稿集
  • 特許分類に関する国際的な動向の続きと特許庁の取り組み
  • 特許分類コード体系に基づくオントロジーの構築
  • 特許分類の自動推定に向けた取り組み
• Japio YEAR BOOK 2015　寄稿集
  • 特許分類に関する現在の状況
  • 特許分類の自動推定に向けた取り組み
• Japio YEAR BOOK 2016　寄稿集
  • 特許分類に関する最新動向
  • 新しいタイプの商標の分類（検索コード）について
  • 特許分類の自動推定の取り組み
• Japio YEAR BOOK 2017　寄稿集
  • 特許分類に関する最新動向
  • 外国特許文献への分類付与に関する機械学習活用可能性調査について