2015-12-30 : 更新
2007-02-18 : 更新
2006-10-14 : 作成

 

     

  • Fターム
     
    技術的観点から項目分けされているIPCとは異なり、複数の観点(発明の目的、用途、材料、制御、制御量など)から細分類した特許分類。特許の実態審査における先行技術調査を効率的に行うためにFタームが開発された。FIと同様、日本固有の分類。